存储级别高低温试验方案 产品低温储存实验 测试名称：产品低温储存实验 测试目的：检查产品在低温下储存的适应性 测试步骤： 1、将DUT放入低温箱内； 2、将低温箱设置为-40℃，DUT加电48个小时；按不大于1℃/min不超过5min时间的平均值的温度变化速率调控到试验规定的温度，给以时间使试验样品达到温度稳定后，开始实验记时。 3、低温48小时后，DUT常温下恢复2小时，smartbit仪器与DUT所有端口相连，进行流量测试； 4、记录测试温度； 判定结果： 1、设备运行正常，流量测试无丢包； 2、指示灯工作正常；  产品高温储存实验 测试名称：产品高温储存实验 测试目的：检查产品在低温下储存的适应性 测试步骤：1、将DUT放入低温箱内； 2、将低温箱设置为90℃，DUT加电48个小时；按不大于1℃/min不超过5min时间的平均值的温度变化速率调控到试验规定的温度，给以时间使试验样品达到温度稳定后，开始实验记时。 3、低温48小时后，DUT常温下恢复2小时，smartbit仪器与DUT所有端口相连，进行流量测试； 4、记录测试温度； 判定结果： 1、设备运行正常，流量测试无丢包； 2、指示灯工作正常；                              返回  高低温试验箱   首页